Электронная микроскопия. Практика 4.3

Сканирующая электронная микроскопия. Микроскоп TESCAN MIRA3. Настройка микроскопа. Коррекция астигматизма. Использование усреднения. Детекторы обратнорассеянных и вторичных электронов. Формирование заряда на непроводящем образце, влияние на топографический и элементный состав. Элементный анализ. Энерго-дисперсионный анализ.