РАБОТА УСТАНОВКИ МК-АМ. Обзор

Установка контроля МК-АМ, предназначенная для визуального и автоматизированного контроля дефектов внешнего вида кристаллов на полупроводниковых пластинах с последующим формированием карты дефектов и возможностью маркировки в автоматическом режиме. В состав установки входит: микроскоп с автоматизированным столом, специализированное программное обеспечение, маркировщик. Установка контроля МК - АМ используется на базе микроскопа МИКРО 200 (Т) - 01.