Тюлягин Петр Егорович

На данный момент появилось и продолжает появляться достаточно большое количество различных методов модифицировать геометрию поверхности на наноуровне. Для исследования получаемого нанорельева разработано множество инструментов, однако вопросы о сопоставлении получаемых данных между разными инструментами и о их статистической значимости в масштабах всей исследуемой поверхности всё ещё остаются открытым. На лекции мы рассмотрим данные вопросы на примере атомно-силового и интерференционного микроскопа.